型号：X-325i

X-325i是基于光学感应的荧光衰减法检测原理，顶空分析过程不对样品进行采样，对顶空样气体积及顶空条件（如负压）无要求，最小样气量仅需0.1ml即可完成精准分析。有别于传统方法诸如电化学、氧化锆等对样气量、顶空条件（负压）有要求的采样分析方式。

使用荧光法特质的荧光贴片OXYDOT，可以实现无损检测分析，应用于长期的包装稳定性研究。也可应用于溶液配液罐顶空残氧分析。

特征：

● 零样气消耗，只需要极的样气量，最0.1ml

● 可实现对顶空氧及液体解氧同时分析检测

● 自动生成数据随时间变曲线

● 内置温度和压力补偿

● 支持无损检测分析，实现留样分析

● 传感器免维护，无需更换

● 设备零维护，零耗材

● 数据自动无限储存，PDF导出